双晶直探头
接触式探头——国标双晶直探头
接触式探头——国标双晶直探头
接触式探头——国标双晶直探头
接触式探头——国标双晶直探头
双晶直探头

双晶直探头具有独立发射和接受的晶片,在工件中产生一定聚焦长度的双晶片换能器。主要应用于腐蚀检测、涂层测量、剩余壁厚测量、近表面缺陷检测、高衰减材料检测以及铸锻件中裂纹、气孔、夹杂物、孔隙度的检测。


性能特点

1. 没有始波盲区的影响;

2. 散射小,能提高在高衰减高散射材料检测中的信噪比;

3. 在弯曲的曲面或粗糙面中耦合效果好;

4. 两种类型性能的探头可满足绝大多数检测要求。

   (1) "PL"通用型系列: 

          用于需要高灵敏度与穿透力并对分辨率、带宽要求不高的应用场合。

   (2) "C"压电复合陶瓷系列:

         保证在高衰减材料的检测中具有很高的信噪比,并将灵敏度、分辨率和穿透力完美结合。


性能指标


中国规格


1. 探头默认“性能类型”为PL系列

2. 探头接口默认为:顶装L5(Microdot)、Q6


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欧洲规格


1. 探头默认“性能类型”为PL系列

2.探头接口默认为侧装C5(Lemo-00)


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北美规格


1.探头具有低矮的高度,出线端配有可把持手柄,适用于难以进入的检测空间

2.探头默认侧面出线,线长为1.8m,电缆线末端接口有C9(Lemo-1),Q9(BNC)可选


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