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超声显微镜检测系统
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超声显微镜检测系统

Eagle 4501-P 超声显微镜配备了先进的筛选功能,能够高效准确地定位并锁定待检测区域,极大地提升了检测效率与准确性。这一特性使得它能够在短时间内对多款同类产品进行批量扫查。

同时实现了智能计算与智能识别缺陷,快速自动抓取各种潜在的缺陷类型,如裂纹、夹杂物、孔隙等为质量控制和故障预防提供了强有力的支持。这种智能化的检测方式不仅提高了检测的精确度,还显著降低了人为因素导致的误判率,为科研探索与工业生产带来了革命性的改变。

性能指标


软件功能


  • 1 多维成像,全面掌控:支持A、B、C、D、X等多种成像模式,精准呈现产品细节;数据标记与波形对比,实现缺陷的深度追踪与精准分析;

  • 2 灵活跳跃,高效检测:自定义单个产品的非扫描区域,快速跳过无需测试部分,显著节约时间;

  • 3 托盘扫查,一次搞定:支持托盘扫查,同时快速检测多个同类型产品,实现量产测试;

  • 4 多种测量,精准评估:支持多达9种人工测量方式,包括点到点、平行宽度、多线段等,满足不同测量需求;

  • 5 视觉智能,算法导入:支持基于机器视觉的图像评判算法导入,实现自动化缺陷识别与评定;

  • 6 人工框定,智能计算:人工框定缺陷区域后,自动计算缺陷尺寸、面积与占比,简化分析流程;

  • 7 图像导出,直观呈现:A、B、C、D扫支持导出PNG格式图像,清晰展示检测结果;

  • 8 数据导出,格式丰富:A扫、C扫及原始数据支持Excel和点云格式导出,便于后续分析与应用;


规格参数


1、超声与数字化

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2、机械与运动

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3、扫描平台

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检测实例


1、多层陶瓷电容 MLCC

多层陶瓷电容的性能与可靠性依赖于内部结构的完整性。超声显微镜可检测层间气泡、裂纹等微小缺陷,并精确分析缺陷的位置与尺寸,为品质控制提供科学依据,确保其在复杂环境下的稳定运行。

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2、晶圆 Wafer

晶圆键合技术在芯片制造中至关重要。超声显微镜通过高分辨率成像,检测键合界面中的空洞、裂纹及分层情况,提供全面的无损评估,帮助生产者优化工艺参数,确保高密度芯片的高良率生产。

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3、IGBT

IGBT 模块作为功率电子核心组件,其焊层质量和内部结构直接影响车规级性能要求。超声显微镜可无损检测焊层空洞、分层及其他缺陷,精准评估关键风险,帮助制造商确保模块满足车规级高可靠性标准。

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4、陶瓷覆铜板 AMB/DBC

陶瓷覆铜板包括 AMB 和 DBC 两大类型,广泛应用于功率半导体模块这一核心部件。超声显微镜能够精准检测分层、空洞及其他结构性缺陷,为确保功率半导体的高效能与可靠性提供全面质量保障。

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